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    国产品牌WDXRF顺序式波长色散X射线荧光光谱仪CNX-808

    产品型号: CNX-808
    品  牌: 国产
      价格电议,您可以向供应商询价得到该产品价格
    所 在 地: 上海
    更新日期: 2025-04-30
    详细信息
     品牌:国产  加工定制:是  型号:CNX-808  
     光源:X射线  波长范围:x nm 焦距:X mm 
     外形尺寸:Y mm 重量:M g 适用范围:地质、建材、新材料等材料元素分  
    国产品牌WDXRF顺序式波长色散X射线荧光光谱仪CNX-808
    国产品牌WDXRF顺序式波长色散X荧光光谱仪CNX-808仪器简介:
    X射线荧光(XRF)技术是当今*主要的分析测试技术之一,具有元素范围广(B-U)、动态范围宽(ppm-100%)、检出下限低、精度高、速度快、自动化、无损测试、制样简单、多元素同时测定等诸多优点,与ICP-AES、ICP-MS并称无机多元素测试技术领域的三大支柱。
    在科技部国家重大科学仪器专项(2012YQ050076)的支持下,针对金属、建材、地质、环境、矿产等领域对无机元素分析技术的需求,先后攻克了X射线源、分光光路系统、探测器等关键技术,成功研制了顺序式波长色散X射线荧光光谱仪——CNX-808。
    基于CNX-808,公司与国家地质实验测试中心等多家权威测试机构合作,开发了适合各行业的分析测试方法,建立了针对金属、地质、建材、环境、矿物等领域多种类型样品的方法体系。
    国产品牌WDXRF顺序式波长色散X荧光光谱仪CNX-808应用领域:
    地质样品领域:
    CNX-808光谱仪针对地质领域压片和熔片两类样品分别开发了应用方法体系,可以为地质研究、找矿提供可靠的检测数据。
    建材样品领域:
    CNX-808针对多种建材样品的分析需求,建立了水泥、涂料等样品应用方法体系,实现对样品的高精度分析。
    新材料样品领域:
    X荧光光谱仪CNX-808能够解决新材料研究领域宽幅、无损、全元素分布分析的难题。
    生态环境领域:
    CNX-808针对生态环境中的土壤、植物、水系沉积物、空气颗粒物等样品的分析需求,建立了整体的解决方案。通过研究不同时期形成的土壤层、沉积层中的有害重金属元素含量分布特征,为环境评价提供可靠的指标参数。
    国产品牌WDXRF顺序式波长色散X射线荧光光谱仪CNX-808仪器特点:
    高稳定高精度X射线源:
    4kW大功率高压发生器,保证更低的检测下限和更快的分析速度;优化的功率自动调节程序,能够快速调整功率,监控X射线管状态,提高使用寿命;一体化冷却水机,提供对X射线管更可靠的保护。
    优秀的光路设计:
    光程短,有利于获得更大的计数率。提供*多10组滤光片、10组光阑、4组初级准直器、10组分光晶体的配置。
    波谱能谱复合功能(选配)
    波谱能谱复合可以提高数据质量和检测速度,选配的SDD探测器,提供更加灵活的分析手段,两种功能深度复合。分布分析时,可以根据实际需求,任选一种探测器。
    可靠的高精度测角仪:
    θ/2θ单独驱动,测角仪采用成熟可靠的传动和反馈技术,在保证性能优异的同时,具有可靠性高、使用寿命长等特点。
    便捷强大的分析测试软件:
    界面友好,操作便捷,内置多种算法,全自动化测试过程,满足定量定性分析需要。
    国产品牌WDXRF顺序式波长色散X射线荧光光谱仪CNX-808仪器参数:
    波长色散X射线荧光光谱仪指标
    硬件配置 高压发生器 *大电压:60kV
    *大电流:150mA
    *大功率:4kW
    长期稳定度:0.01%
    X射线管 端窗
    可选靶材:Rh、Cu、Mo、W、Cr、Pt
    铍窗厚度:75μm/50μm可选
    自动进样器 1位/48位可选,机械手自动进样系统
    样品尺寸 固体,*大φ50mm*H30mm
    样品台 极坐标定位、带自旋功能
    初级滤光片 Ti、Zr、Cu、Al等多种材质和厚度可选,*多可配10片
    光阑 φ35,30,25,20,10,3,1,0.5mm及衰减器
    初级准直器 150、300、500、750、3000μm可选,做多可配4种
    测角仪 θ-2θ独立驱动
    扫描范围:SC(1-118°)、PC(10-148°)
    步进角度:0.001°、0.002°、0.005°、0.01°、0.02°、0.05°、0.1°
    角度重复性:±0.0005°
    角度精度:±0.0005°
    分光晶体 10位晶体交换器,liF200、LiF220、PET、Ge、多层膜晶体等可选
    探测器 闪烁体计数器(SC)、正比式流气计数器(F-PC)
    恒温器 36.5±0.1℃
    真空系统 分析室和进样室双真空
    选配件 分析室充He气系统(分析液体样品的气氛)
    能谱探测器SDD,可与波谱复合使用,提高检测效率
    样品CCD照相系统,配合分布分析使用
    仪器指标 达到《JJG 810-1993 波长色散X射线荧光光谱仪检定规程》A级
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