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FEI扫描电子显微镜Apreo 进口扫描电镜（SEM）
| 产品型号： |
Apreo |
| 品 牌： |
FEI |
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| 所 在 地： |
上海 |
| 更新日期： |
2025-04-30 |
| | 品牌：FEI | | 型号：Apreo | | 加工定制：否 | |
| | 类型：电子 | | 目镜放大倍数：X | | 物镜放大倍数：X | |
| | 仪器放大倍数：X | | 重量：X g | | 适用范围：研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳 | |
| | 装箱数：1 | | 重量：X g | | 适用范围：研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳 | |
FEI扫描电子显微镜Apreo_进口扫描电镜（SEM）
FEI
扫描电子显微镜 (SEM)
解析从光学范畴到亚纳米长度尺度的特性。我们灵活的 SEM
可满足各种需求，从科学和工程中的材料表征一直到自然资源中的应用、制造和生物系统。
FEI扫描电子显微镜Apreo_进口扫描电镜（SEM）——
功能丰富的高性能 SEM
Apreo 扫描电镜
革命性的复合透镜设计结合了静电和磁浸没技术，可产生高分辨率和信号选择。这使得 Apreo
成为研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台，并且不会降低磁性样品性能。
Apreo扫描电子显微镜
受益于独特的透镜内背散射探测，这种探测提供优良的材料对比度，即使在倾斜、工作距离很短或用于敏感样品时也不例外。新型复合透镜通过能量过滤进一步提高了对比度并增加了用于绝缘样品成像的电荷过滤。可选低真空模式现在的*大样品仓压力为 500 Pa
，可以对要求严苛的绝缘体进行成像。
通过这些优势（包括复合末级透镜、高级探测和灵活样品处理），Apreo
可提供出色的性能和多功能性，帮助您应对未来的研究难题。
FEI扫描电镜（SEM）_进口扫描电子显微镜Apreo
材料科学应用
新的 Apreo
扫描电子显微镜 (SEM)
可对纳米颗粒、金属、复合材料和涂层等多种材料进行检测，并且整合了创新功能，可提供更好的分辨率、对比度和易用性。
复合末级透镜可在任何样品（即使在倾斜时或进行地形测量时）上提供优异的分辨率（1 kV
电压下为 1.0 nm
），而无需进行电子束减速。
作用*的背散射探测 -
始终保证良好的材料对比度，即使以低电压和电子束电流并以任何倾斜角度对电子束敏感样品进行 TV
速率成像时也不例外。
无比灵活的探测器 -
可将各个探测器部分提供的信息相结合，获得至关重要的对比度或信号强度。
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